集成电路闩锁效应,创芯大讲堂,闩锁效应培训课程主要内容：通过介绍闩锁效应出现的背景、双极型晶体管原理、闩锁效应的触发方式、闩锁效应的业界标准和测试方法（V-test和I-test）、闩锁效应在实际工艺中定性分析、闩锁效应触发的必要条件和改善闩锁效应的措施等，让从事集成电路相关工作的工程师快速理解闩锁效应的原理和闩锁效应的分析方法，从而提高自己解决集成电路闩锁效应相关问题的能力。 本系列培训课程共分八节内容  第一讲：闩锁效应出现的背景  第二讲：闩锁效应简介  第三讲：双极型晶体管原理  第四讲：闩锁效应的触发方式  第五讲：闩锁效应的业界标准和测试方法  第六讲：闩锁效应在实际工艺中定性分析  第七讲：闩锁效应触发的必要条件  第八讲：改善闩锁效应的措施 适用人群：从事集成电路相关工作的工程师